如何測(cè)試硬盤(pán)讀取速度
硬盤(pán)作為電腦的一個(gè)主要部件，不僅肩負(fù)著記錄一切數(shù)據(jù)信息的重要職責(zé)，而且它的性能對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的性能有直接影響。由于磁存儲(chǔ)介質(zhì)的發(fā)展較一日千里的半導(dǎo)體技術(shù)落后，所以硬盤(pán)在整機(jī)系統(tǒng)中很多時(shí)候充當(dāng)著一個(gè)“瓶頸”的角色。硬盤(pán)性能在整機(jī)系統(tǒng)中擔(dān)當(dāng)?shù)慕巧绱酥匾?，因此了解如何測(cè)試硬盤(pán)的性能相信對(duì)大家都會(huì)有所幫助的。
在測(cè)試硬盤(pán)之前，我們首先要了解一下影響硬盤(pán)性能的有關(guān)參數(shù)，只有這樣我們才能在測(cè)試中做到有的放矢，更好地分析和利用測(cè)試結(jié)果，這也有助于我們選購(gòu)一款適合自己的硬盤(pán)。下面就是一些常用的硬盤(pán)性能參數(shù)：
1. 主軸轉(zhuǎn)速和平均等待時(shí)間：硬盤(pán)的碟片是繞主軸旋轉(zhuǎn)的，主軸的轉(zhuǎn)速也就是硬盤(pán)碟片的旋轉(zhuǎn)速度，單位是轉(zhuǎn)/分鐘（RPM），主流IDE硬盤(pán)的轉(zhuǎn)速一般有5400RPM和7200RPM兩種，而高端SCSI硬盤(pán)則一般達(dá)到10000轉(zhuǎn)甚至是15000轉(zhuǎn)。轉(zhuǎn)速更快硬盤(pán)的性能自然會(huì)越好。而硬盤(pán)的平均等待時(shí)間由主軸轉(zhuǎn)速所決定，以7200轉(zhuǎn)硬盤(pán)為例，它的平均等待時(shí)間為1/（7200÷60×2）＝4.17ms。
2. 傳輸界面：就目前主流IDE硬盤(pán)的界面而言，根據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)，Ultra DMA有Mode 0至Mode 6 7種模式，其中UDMA2/4/5/6分別就是我們熟悉的Ultra ATA 33/66/100/133。33MB/s、66MB/s、100MB/s和133MB/s分別是它們的界面?zhèn)鬏斔俣?。不久之后大家就?huì)見(jiàn)到界面?zhèn)鬏斶_(dá)到150MB/s的Serial ATA界面。
3.單碟容量與緩存：?jiǎn)蔚萘康奶岣卟粌H可以有效提高硬盤(pán)的總?cè)萘浚彝€能帶來(lái)硬盤(pán)性能的提升，所以目前硬盤(pán)的升級(jí)主要體現(xiàn)在單碟容量的提升上。緩存的作用相信不用多說(shuō)，硬盤(pán)的數(shù)據(jù)被磁頭讀取后先存到硬盤(pán)上的緩存芯片中，再由接口傳送給系統(tǒng)，緩存的容量和速度都對(duì)硬盤(pán)速都有直接影響。最近出現(xiàn)的8MB緩存硬盤(pán)就是利用大容量緩存來(lái)提高硬盤(pán)的性能。
上面的幾個(gè)參數(shù)都與硬盤(pán)性能有著密切的關(guān)系，但是它們的數(shù)字一般都由廠(chǎng)商直接提供，用戶(hù)一般不需要測(cè)試這些參數(shù)。磁盤(pán)性能測(cè)試所要關(guān)注的參數(shù)主要有以下幾個(gè)：
1.數(shù)據(jù)傳輸率：一般硬盤(pán)廠(chǎng)商都會(huì)標(biāo)稱(chēng)硬盤(pán)的最大內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸率，但對(duì)于用戶(hù)而言硬盤(pán)的內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸率難以直接測(cè)量，鑒于內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸率和硬盤(pán)的連續(xù)數(shù)據(jù)傳輸能力有著極大的關(guān)系，而連續(xù)數(shù)據(jù)的傳輸速度又是實(shí)際應(yīng)用中磁盤(pán)性能的主要體現(xiàn)，反映了硬盤(pán)的數(shù)據(jù)交換能力，所以硬盤(pán)的數(shù)據(jù)傳輸率是硬盤(pán)測(cè)試的一個(gè)重要數(shù)據(jù)。
2. 平均尋道時(shí)間：?硬盤(pán)還有一個(gè)指標(biāo)就是平均尋道時(shí)間。平均尋道時(shí)間實(shí)際上是由轉(zhuǎn)速、緩存、單碟容量等等性能綜合決定的一個(gè)參數(shù)，體現(xiàn)在用戶(hù)的角度，就是一個(gè)總體的性能指標(biāo)。目前主流硬盤(pán)的平均尋道時(shí)間差別都不大，一般在9ms左右。由于數(shù)據(jù)在硬盤(pán)中是分簇存儲(chǔ)的，而順序讀取的數(shù)據(jù)往往不是連續(xù)排列在同一磁道上，所以磁頭在讀取數(shù)據(jù)時(shí)往往需要在磁道之間反復(fù)移動(dòng)，因此平均尋道時(shí)間在一些文件細(xì)小且分散的數(shù)據(jù)傳輸中起著十分重要的作用。
3. CPU占用率：硬盤(pán)的CPU占用率雖然不直接決定硬盤(pán)的性能，但它卻對(duì)整機(jī)性能有一定的影響。在一些多任務(wù)的數(shù)據(jù)交換中，過(guò)高的CPU占用率可能會(huì)導(dǎo)致整機(jī)性能?chē)?yán)重下降甚至停止響應(yīng)，因此CPU占用率也是硬盤(pán)性能測(cè)試的一個(gè)重要方面。
圍繞這幾個(gè)硬盤(pán)性能參數(shù)，我們下面介紹一個(gè)常用的硬盤(pán)測(cè)試軟件IOMETER并介紹它們的使用方法。
Intel IOMeter
IOMeter是Intel公司開(kāi)發(fā)的一個(gè)專(zhuān)門(mén)測(cè)試系統(tǒng)I/O（包括磁盤(pán)、網(wǎng)絡(luò)等）速度的測(cè)試軟件。它的基本原理是模式實(shí)際應(yīng)用環(huán)境來(lái)測(cè)試硬盤(pán)的性能。它預(yù)置了多種磁盤(pán)實(shí)際運(yùn)行環(huán)境，包括定長(zhǎng)數(shù)據(jù)塊的讀寫(xiě)，數(shù)據(jù)的連續(xù)讀/寫(xiě)，以及數(shù)據(jù)庫(kù)，文件服務(wù)器和Web服務(wù)器等多種模式，用戶(hù)還可以根據(jù)自己需要制定自己的運(yùn)行環(huán)境，功能十分強(qiáng)大，實(shí)在是專(zhuān)業(yè)人士的理想測(cè)試工具。 #p#page_title#e#
登陸界面
點(diǎn)擊任務(wù)配置文件，然后進(jìn)入主界面。
點(diǎn)擊任務(wù)配置文件
在這里我們可以配置測(cè)試項(xiàng)目，Test Setup中可以定義每個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試時(shí)間，一般5分鐘左右比較準(zhǔn)確，然后在Disk Target中選好測(cè)試分區(qū)后就可按Start Tests進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試結(jié)果會(huì)按你給出的路徑輸出為文本文件。對(duì)輸出結(jié)果作一定整理就可以得到以下詳細(xì)直觀的測(cè)試結(jié)果。
間隔時(shí)間設(shè)置
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